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                  影響老化測試系統整體性能的因素

                  信息來源于:互聯網 發布于:2021-09-22

                  影響老化測試系統整體性能的因素

                  1、首先是測試方法的選擇。

                  理想的情況是器件在老化制程上花費的時間最少,這樣可以提高總體產量。惡劣的電性能條件有助于故障加速出現,因此能快速進行反復測試的系統可減少總體老化時間。每單位時間里內部節點切換次數越多,器件受到的考驗就越大,故障也就出現得更快。

                  2、老化板互連性、PCB設計以及偏置電路的復雜性。

                  老化測試系統可能被有些人稱為高速?測試,但是,如果機械連接或老化板本身特性會削弱信號質量,那么測試速度將會是一?個問題。如像過多機電性連接會增大整個系統的總電容和電感、

                  老化板設計不良會產生?噪聲和串擾、而很差的引腳驅動器設計則會?使快速信號沿所需的驅動電流大小受到限?制等等,這些都僅是一部份影響速度的瓶頸,另外由于負載過大并存在阻抗、電路偏?置以及保護組件值的選擇等也會使老化的性能受到影響。

                  3、計算機接口與數據采集方式。

                  有些老化測試系統采用分區方法,一個數據采集主機控制多個老化板,另外有些系統則是單板式采集。從實際情況來看,單板式方法可以采集到更多數據,而且可能還具有更大的測試產量。

                  老化測試系統

                  4、對高速測試儀程序的下載及轉換能力。

                  有些老化測試系統有自己的測試語言,對需要做100%節點切換的被測器件不用再開發程序;而有些系統能夠把高速測試儀程序直接轉換到老化應用上,可以在老化過程中進行更準確的測試。

                  5、系統提供參數測試的能力。

                  如果老化測試系統能進行一些速度測試,那么還可得到其他一些相關失效數據以進行可靠性研究,這也有助于精簡老化后測試制程。

                  6、根據時間動態測試參數的能力,如電壓與頻率。

                  如果老化測試系統能夠實時改變參數,則可以加快通常屬于產品壽命后期階段故障的出現。對于某些器件結構,直流電壓偏置及動態信號的功率變動都可加速出現晚期壽命故障。

                  7、計算機主機與測試系統之間的通訊。

                  由于功能測試程序非常長,因此測試硬件的設計應盡可能提高速度。一些系統適用較慢的串行通訊,如RS-232C或者類似協議,而另一些系統則使用雙向并行總線系統,大大提高了數據流通率。

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